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ContourGT-K0 三维光学显微镜

物超所值的基本型定量测试方案
        ContourGT-K0为用户提供了一款性能卓越、易于使用的桌上型轮廓仪。该仪器利用白光干涉原理实现了纳米级粗糙度表面的测量,到毫米级台阶的测量,分辨率达亚纳米级。其最新Vision64软件对仪器的操作和数据的分析功能实现了业界最强大的测量性能,而其优化设计的用户界面提供了大量预设的数据分析模块,使用户方便地处理诸如太阳能、精密加工、印刷和医疗应用等表面的测量数据。以其易用性与先进的干涉仪设计,ContourGT-K0非常适合于量品率监控的专用测试,或者作为对表面织构参数研发和测试的专家系统。
大视场下最高的垂直分辨率
        • 从1.25x到50x不同放大倍率实现不同面型和织构表面的表征
        • 任意放大倍率下保持相同的达到亚纳米级的分辨率
          进一步提高测量重复性和再现性
        • 高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量
提高表面测量和分析速度
        • 新的软件设计使可处理的数据量提高几十倍的提高
        • 多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍以上
具有业界最优异的易用性
        • 优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程,从而提高仪器和操作者效率
        • 独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项
        • 用户可自行订制数据输出的界面
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