用于工艺质量监控定标性自动化测试系统，内部设有自校准系统
德国Bruker公司的ContourGT-X8可用于高亮度LED、半导体器件、硅通孔（TSV）或槽、触摸屏、眼科镜片、医疗器械、太阳能电池板和精密加工零件等各行业，为这些领域提供最快速、准确地三维非接触式测量。这一定标性（Gauge-capable）系统为用户提供从小批量试产到大规模生产的稳定而易于使用的测量平台。专属技术内部激光自校准可以补偿因环境或机械不稳定产生的漂移，无需标准块。最新Vision64软件对仪器操作和数据分析都达到了业界最高水平，其优化设计的用户界面提供了大量预设的数据分析模块，用于高速处理系统采集的大量复杂数据。ContourGT-X8是当今最先进的白光干涉轮廓仪。
大视场下最佳垂直分辨率，测量业界的标杆
• 从0.5x到230x不同放大倍率实现不同面型和纹理的表面表征
• 任意放大倍率下保持相同的高达亚纳米级的分辨率
• 为提高横向分辨率可选高分辨率相机
独特的硬件设计进一步提高在量产环境下的测量重复性和再现性
• 高亮度的双LED照明专利技术提高测量质量，以及更多的放大倍率选择
• 硬件的优化设计进一步提升的仪器抗噪声能力、系统灵活性和测量稳定性
• 激光自校准功能（专利）使得仪器间测量数据一致，保证测量的重复性和准确性
多核处理器和64位软件为表面测量和分析加速
• 新的软件设计使可处理的数据量提高几十倍
• 多核处理器和64位软件使数据分析速度提高十倍以上
• 优异的缝合能力可以对上千个数据无缝拼接从而实现大面积检测
业界最优的易用性、自动化和分析功能
• 优化的用户界面大大简化测量和数据分析过程，从而提高仪器和操作者效率
• 独特的可视化操作工具为用户提供易于学习和使用的数据分析选项
• 用户可自行订制数据输出的界面 |
